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Sample-charged mode scanning polarization force microscopy for characterizing reduced graphene oxide sheets 期刊论文
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2014, 卷号: 115, 期号: 24
作者:  Shen, Yue;  Wang, Ying;  Zhang, Jinjin;  Hai, Chunxi;  Zhou, Yuan;  Hu, Jun;  Zhang, Yi
收藏  |  浏览/下载：67/0  |  提交时间：2018/06/20