Knowledge Management System Of Qinghai Institute of Salt Lakes,CAS
| 高精度热电离质谱法测定铟同位素 | |
| 肖应凯; 王蕴慧; 祁海平; 金琳 | |
| 1992-04-30 | |
| 发表期刊 | 分析化学
 |
| 期号 | 4页码:458-460 |
| 关键词 | 量同位素 热电离 铟原子量 |
| 摘要 | 本文系统研究了高精度热电离质谱测定铟同位素的方法,采用磷酸涂样技术,获得了强而稳定的In~+离子流,5种锢试剂中的平均~(113)In/~(115)In比值为0.044804±0.000055(2SD),由此比值计算的铟原子量为114.8185(2)比现行的114.82更为精密。 |
| 语种 | 中文 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.isl.ac.cn/handle/363002/1374 |
| 专题 | 青海盐湖研究所知识仓储 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 肖应凯,王蕴慧,祁海平,等. 高精度热电离质谱法测定铟同位素[J]. 分析化学,1992(4):458-460. |
| APA | 肖应凯,王蕴慧,祁海平,&金琳.(1992).高精度热电离质谱法测定铟同位素.分析化学(4),458-460. |
| MLA | 肖应凯,et al."高精度热电离质谱法测定铟同位素".分析化学 .4(1992):458-460. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 高精度热电离质谱法测定铟同位素.pdf（209KB） | 开放获取 | 使用许可 | 浏览 请求全文 | |||
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