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雷达天线近场测试系统中取样架的稳定性分析
尚军平; 毛乃宏; 李勇
1999-02-20
发表期刊西安电子科技大学学报
卷号26期号:1页码:63-66
摘要取样架稳定工作是雷达天线测试系统的关键.因此,对取样架的结构稳定性进行了校验,对其控制系统稳定性进行了分析,并给出控制参数的取值域.在系统稳定性要求的控制参数范围内,系统可安全可靠地运行.
关键词取样架 有限元 闭环控制 稳定域
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.isl.ac.cn/handle/363002/276
专题青海盐湖研究所知识仓储
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GB/T 7714
尚军平,毛乃宏,李勇. 雷达天线近场测试系统中取样架的稳定性分析[J]. 西安电子科技大学学报,1999,26(1):63-66.
APA 尚军平,毛乃宏,&李勇.(1999).雷达天线近场测试系统中取样架的稳定性分析.西安电子科技大学学报,26(1),63-66.
MLA 尚军平,et al."雷达天线近场测试系统中取样架的稳定性分析".西安电子科技大学学报 26.1(1999):63-66.
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