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涂样量对纳克级硼同位素测定的影响
张崇耿; 肖应凯; 王庆忠; 魏海珍; 孙爱德
2001-09-30
发表期刊质谱学报
期号3页码:56-60
摘要在石墨存在下 ,用正热电离质谱法 ,使用Cs2 BO2+离子测定了含 1 0 0、50、2 0ng和 1 0ngB的NISTSRM 951硼酸标样中的硼同位素的组成。结果表明 ,随着涂样量的减少 ,硼同位素丰度测定比值 ( 1 1 B/1 0 B)和测定精度有所下降。本文也给出了VG -3 54正热电离质谱测定纳克级硼同位素组成的最佳条件。结果表明 ,当涂样量大于 1 0 0ngB时 ,硼同位素丰度比的测量精度最佳 ,1 0ngB是正热电离质谱法使用法拉第杯检测硼同位素组成的最低限量。本研究为开展低硼含量的海洋微体古生物 ,古土壤 ,河水等地质样品中的硼同位素组成质谱测定提供了依据。
关键词 涂样量 同位素丰度比值 正热电离
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.isl.ac.cn/handle/363002/421
专题青海盐湖研究所知识仓储
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GB/T 7714
张崇耿,肖应凯,王庆忠,等. 涂样量对纳克级硼同位素测定的影响[J]. 质谱学报,2001(3):56-60.
APA 张崇耿,肖应凯,王庆忠,魏海珍,&孙爱德.(2001).涂样量对纳克级硼同位素测定的影响.质谱学报(3),56-60.
MLA 张崇耿,et al."涂样量对纳克级硼同位素测定的影响".质谱学报 .3(2001):56-60.
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